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X-ray分析仪\XTU-50A

X-ray分析仪\XTU-50A

XTU-50A镀层X射线测厚仪采用下照式设计,快速方便的定位各种形状的样品,满足一切测试所需。其无损变焦检测:拥有手动变焦功能,可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-30mm。同时采用独特的微聚焦射线装置:可测试各微小的部件,最小检测面积可达0.04mm²。高效率的接收器。在检测0.01mm²以

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  • 产品详情

    XTU-50A镀层X射线测厚仪采用下照式设计,快速方便的定位各种形状的样品,满足一切测试所需。其无损变焦检测:拥有手动变焦功能,可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-30mm。同时采用独特的微聚焦射线装置:可测试各微小的部件,最小检测面积可达0.04mm²。高效率的接收器。在检测0.01mm²以下的样品时,几秒钟也可达到稳定性。精密的手动移动平台,快速精准定位所需检测的样品。

X-ray分析仪\XTU-50A

    产品广泛应用于各种金属的单镀层,多镀层,多元合金,甚至对于同种元素在不同层的厚度检测也能分析,包括轻金属镀层,非金属镀层,达克罗,Nip镀层测试,包括Ni与P的比例也均可检测。

    性能优势:

    多种准直器和滤光片电动切换,满足各种测试方式的应用。新一代高压电源和X光管,性能稳定可靠,高达50W的功率实现更高的测试效率。恒压恒流快门式光闸,拥有高压电源紧急自锁功能,带给您更安全的防护。

    技术参数:

    测量元素范围:CI(17)-U(92)

    涂镀层分析范围:CI(17)/Li(3)-U(92)

    分析软件:EFP,可同时分析23层镀层,24种元素,不同层有相同元素和有机物厚度也可分析

    测试程式添加:1862条测试程式免费提供,也可编辑新程式

    软件操作:人性化封闭软件,自动提示校正和步骤,避免操作错误

    X射线装置:升压发射一体高分子聚合式W靶微聚焦射线管

    接收器:日本东芝正比计数管,窗口面积≥150mm²

    射线准直系统:垂直光路交换装置搭配黄金准直器

    视频观测光路系统:垂直光路交换装置搭载100mm变焦镜头

    测样读取开启方式:恒压恒流快门式光闸

    滤光片:铝、空、镍

    准直器:ø0.2mm;ø0.5mm;两准直器任选一种

    最近测距光斑扩散度:10%

    最小测量面积:约0.04mm²

    测量距离:具有距离补偿功能,可改变测量距离,能测量凹凸异形样品,变焦距离0-30mm

    样品观察:1/2.5彩色CCD,全局快门,有效像素:1280*960,变焦功能

    对焦方式:高敏感镜头(无需增加其他辅助传感器),手动对焦

    放大倍数:光学38-46X,数字放大40-200倍

    样品台尺寸:500mm*360mm

    样品可放置区域:480mm*320mm*205mm(C型开槽设计,特殊测试时可以超出区域放置样品)

    外部尺寸:540mm*430mm*475mm

    移动方式:高精密XY手动滑轨

    可移动范围:40mm*50mm

    电源:交流220V50HZ

    功耗:最大120W(不包括计算机)

    冷却系统:对流通道过滤式风冷

    保养升级模块:软硬件模块化

    环境要求:使用时温度:10℃-40℃存储和运输时温度:0℃-50℃空气相对湿度:≤80%

    重量:约45KG

    随机标准片:十二元素片、Ni/Fe、Au/Ni/Cu

    其他附件:电脑一套、喷墨打印机、附件箱